Комплекс является часть дипломной работы по измерению характеристик полупроводников. Реализован аппаратный АЦП на чипах АЦП от TI и микроконтроллере Atmel и программное обеспечение, работающее в режимах цифрового генератора сигналов, осциллографа и моделирования физических процессов.